梅特勒-托利多推出新型XP105分析天平

梅特勒-托利多作为全球领先的精密仪器与服务供应商，推出了新型 XP105 分析天平，进一步拓展了丰富的 XP 天平系列。XP105 天平为实验室环境中糖分纯度的定量分析提供了安全、准确的解决方案，降低误差风险、提高效率以及易于操作。选配 LabX Balance软件，只需简单设置，即可引导操作人员完成称量过程。
由于实验室环境中通常存在硫酸等腐蚀性物质，因此确保安全性至关重要。当操作人员戴上防护手套的同时，还必须确保实验室仪器坚固、耐用，且易于操作。此外，为避免样品混淆等差错，易于执行的差重称量应用程序和自动识别样品功能是首要必备的条件。

针对这一类应用的理想解决方案就是XP105天平（量程为 100 g，可读性为 0.01 mg）。

XP105 天平的红外感应系统（ SmartSens ），帮助用户实现无需用手接触天平的称量操作，这对在称量过程中需戴手套的操作人员来说尤为重要。天平的触摸式显示屏为操作人员提供了清晰的操作指导，指导操作人员完成包括样品标识认证在内的称量过程，从而降低差错风险、提高效率。

LabX Balance软件使电脑与 XP105 天平轻松连接。通过对软件进行设置，可指导用户根据天平彩色触摸屏上显示的有关用户标准操作程序（SOP）的个性化对话框完成称量过程。这种远程功能和可追溯性文件记录可显著优化实验室工艺过程的效率。