[简介]小麦表型检测系统TPM-BX-1可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标
TPM-BX-1
标准配置
[简介]一种基于图像识别的“玉米株型分析系统”不仅能够实现对传统手工测量的替代，多参数一次性获取的特征也能显著提高分析效率，对于现代农业育种、涉农科研和农业生产有着巨大的推动作用。
TPMT-X-1
标准配置
[简介]千粒重测量系统不仅可以测出种子数量，也可以自动换算出千粒重。
标准配置
[简介]大豆表型检测仪可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标，这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。
TPD-BX-1
标准配置
[简介]玉米表型检测系统TPY-BX-1可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标。
TPY-BX-1
标准配置
[简介]水稻表型检测系统可测量水稻株高、夹角、茎粗、水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标，
TPS-BX-1
标准配置
[简介]水稻整穗考种仪可以测量各枝梗穗粒数、一次枝梗长度和对应穗粒数、二次枝梗长度和对应穗粒数、枝梗着粒密度、穗着粒密度以及平均值、种子粒数、千粒重。
TPDS-X-1 plus
标准配置
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型号：TPCB-II-C7.0 plus/TPCB-III-C7.0 plus
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